FEI300Kv球差矫正电镜Themis Z技术及应用介绍

　　时  间：10月24日（周一），上午9:00开始

　　地  点：无机分析楼一号会议室

　　题  目：FEI新一代球差校透射正电镜-Themis Z

　　摘  要：FEI公司在2016年7月美国电镜协会年会（M&M2016）上推出了新一代球差校正透射电镜-Themis。该款球差校正电镜是继FEI Titan，Titan Themis系列电镜后推出的最新一代产品，具有low base和high base两款可供选择。Themis透射电镜中的high base版本的名称为Themis Z，其特点除了在透射模式和扫描透射模式下的超高分辨率外，高压选择的多样化、图像获取的高度自动化、新成像技术的实用性及能谱的可选择性都展示了FEI公司的最新技术成果。其中最新的成像技术可适用于研究易受电子辐照损伤的材料，这将大大提高球差校正透射电镜在材料领域内的应用。本次报告将通过使用Themis Z电镜获得的图像及实例向大家展示它的各项功能。

　　报告人简历：杨光，FEI公司亚太区市场推广部经理。2001年获得同济大学材料科学与工程系学士学位，2003年在英国曼彻斯特理工大学材料学取得硕士学位，2007年英国谢菲尔德大学工程材料系博士学位。之后分别于2007-2009年和2009-2010年在美国伊利诺伊大学芝加哥分校物理系及德国埃尔兰根-纽伦堡大学材料系做博士后研究。在2011年1月至2016年4月间在西安交通大学电信学院国际电介质研究中心担任教授，之后入职FEI公司负责亚太区透射电镜产品推广。具有十几年球差校正（扫描）透射操作使用经验，研究过包括功能陶瓷，薄膜材料，微晶玻璃，贵金属纳米催化剂等各类材料，发表SCI论文60余篇。