材料结构性能
原位光谱椭偏仪
仪器型号：SE800
仪器简介
生产制造商：德国SENTECH公司
主要性能参数：
光源波长350~950 nm
测试厚度精度±0.3 nm
折射率重复性±0.002，精度±0.003
应用范围
薄膜样品厚度及折光率测定
仪器简介
生产制造商：德国SENTECH公司
主要性能参数：
光源波长350~950 nm
测试厚度精度±0.3 nm
折射率重复性±0.002，精度±0.003
应用范围
薄膜样品厚度及折光率测定