仪器简介

生产制造商：Ambios Technology

配有Step Hight Reference S/N 1032 标准样品。

扫描范围： 55 mm（一般10 mm）

大样品厚度20 mm；

垂直扫描最大高度：1200 μm，一般测400 μm 以下

垂直分辨率：1Å@10μm；15Å@100μm；62Å@400μm

光学显微镜倍数88-247×

针尖直径：2.5 μm

应用范围

广泛应用于化学、物理、冶金、陶瓷、工程等领域。观察各种平面材料的表面起伏状态，测量薄膜、包覆层的厚度、台阶高度及研究材料表面应力情况。