仪器简介

该仪器是FEI公司开发的多功能、多用户环境的200 kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明场像、暗场像和高分辨像，能进行选区电子衍射，能进行EDX能谱分析，STEM结合EDX，能得到微区的点、线、面扫描能谱分布图。

技术指标：

点分辨率：0.24 nm

放大倍数：25 ~ 1030K

最高加速电压：200 kV

X射线能谱仪元素分析范围：⁵B ~ ⁹²U，X射线能谱仪能量分辨率：136 eV

应用范围

该仪器广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物医用材料、金属及半导体材料，在化学、生物学、医学、物理学、地质学等领域，是研究各种材料的聚集态结构和性能关系必不可少的重要的大型精密仪器。