仪器简介

X射线粉末衍射是利用不同构象和晶型的粉末固体对X射线有其特殊的衍射方向和强度，得到特征衍射谱可以有效地对常见的物相进行鉴别和分析。同时，该方法的理论发展和应用也不断深入，有大量的应用程序可用于原始数据的初处理，衍射谱的指标化，晶胞参数的计算，空间群的求取，进一步还可进行原子坐标的求取等。药物尤其是有机药物其构象复杂，同一种分子可得到不同的物相，每一种物相在化学性质和性能方面有很大的不同，而X射线多晶衍射是最好的判定方法。

应用范围

1. 晶粒大小的表征：测量衍射峰的半峰宽

2. 物相分析：半导体膜等表面生长纳米材料的研究，在单晶片或其它衬底上利用各种工艺长出不同的物相

3. 材料结构的全面表征：物相、晶粒大小、微应力等，如纳米陶瓷的结构和性能的全面表征

4. 物质结构分析：精确测定物质的晶体结构参数

5. 定性和定量分析：对粉末样品中不同的物相进行定性和定量分析