分析测试
场发射扫描电子显微镜
仪器型号：HITACHI S-4800
仪器简介
S-4800是一个真正多用途平台，拥有卓越的高分辨性能、先进的探测技术和友好的用户界面，使它能够精确和清楚地捕捉最短暂的瞬间。采用了新型ExB式探测器和电子束减速功能，提高了图像质量，尤其是将低加速电压下的图像质量提高到了新的水平；新型透镜系统，提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距离模式、磁性样品模式等多种工作模式，使以往无法实现的工作得以轻松完成。
应用范围
1. 二次电子像和背散射电子像
2. EDS成分分析 线扫描 面扫描
3. 纳米级长度测量
测试材料的表面形貌、粒径大小、粒径分布、元素的组成与分布等几个方面，主要涉及研究方向为稀土发光材料、稀土纳米材料、稀土金属薄膜材料、稀土杂化材料等