分析测试
场发射透射电子显微镜
仪器型号：FEI Tecnai G2 F20
仪器简介
该仪器配备了STEM/EDX/CCD/HAADF等多种附件，能获取TEM形貌像、高分辨像和选区电子衍射，能进行EDX能谱分析，同时STEM结合EDX点、线、面扫描可以进行微区能谱分析，主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究。主要的应用范围包括除磁性材料之外的无机材料的微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构等方面的分析，不适用于有机和生物材料。
应用范围
无机纳米材料的形貌及结构分析
无机纳米材料的成分分析及与其微观结构相对应的元素分布分析
金属薄膜样品的形貌、结构及成分分析。