分析测试
测试——双球差校正透射电子显微镜
型号:Spectra 300

主要功能

JEM-F200冷场型透射电镜安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来色差,实现了高分辨率的观察。该设备采用全新的四级聚光镜设计,分别控制亮度和汇聚角,能最大程度发挥出STEM功能的优势。该设备配备有双探头超级能谱仪,能够实现快速高精度的EDS Mapping分析。


主要功能

JEM-F200冷场型透射电镜安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来色差,实现了高分辨率的观察。该设备采用全新的四级聚光镜设计,分别控制亮度和汇聚角,能最大程度发挥出STEM功能的优势。该设备配备有双探头超级能谱仪,能够实现快速高精度的EDS Mapping分析。


主要功能

JEM-F200冷场型透射电镜安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来色差,实现了高分辨率的观察。该设备采用全新的四级聚光镜设计,分别控制亮度和汇聚角,能最大程度发挥出STEM功能的优势。该设备配备有双探头超级能谱仪,能够实现快速高精度的EDS Mapping分析。


主要功能

JEM-F200冷场型透射电镜安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来色差,实现了高分辨率的观察。该设备采用全新的四级聚光镜设计,分别控制亮度和汇聚角,能最大程度发挥出STEM功能的优势。该设备配备有双探头超级能谱仪,能够实现快速高精度的EDS Mapping分析。